Page 10 - กำหนดมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรม นาโนเทคโนโลยี เล่ม๑
P. 10
มอก. 2691 เลม 1–2558
ิ
้
ํ
(3) คณสมบตของผลกและทางกลทีขนกับทศทางของแรงกระทา (crystallographic and
ึ
ิ
ึ
ั
ุ
่
mechanical anisotropy)
ั
่
ี
ั
ื
่
3.3.3.3 ลกษณะเฉพาะอนของแทงนาโน หรอ ลวดนาโนทอาจจําเปนตอการกําหนดคณลกษณะเฉพาะ
ื
ุ
ิ
่
ี
่
่
่
ํ
ั
ุ
ี
เพือใหเกิดความมนใจวาแทงนาโน หรอ ลวดนาโนมคณภาพคงทและมประสทธภาพสมาเสมอใน
ื
ิ
ี
ิ
ี
ุ
ทกรอบการผลต มดังนี ้
(1) ความเขากันไดกับเมทรกซ
ิ
ั
(2) ความสามารถในการกระจายตวในของเหลว
ั
(3) ลกษณะการไหล
ิ
(4) การวิเคราะหทางเคมของผว
ี
(5) การทําใหเกิดฟงกชนบนผว
ั
ิ
ี
ิ
ั
3.4 ลกษณะเฉพาะของวัสดุนาโนทมมตภายนอกอยูในระดับนาโนสเกลจํานวน 1 มต ิ
ิ
ี
ิ
่
่
3.4.1 ทวไป
ั
่
ี
ิ
ิ
ิ
ิ
ื
ี
ั
ลกษณะเฉพาะของวัสดุนาโนทมมตภายนอกอยูในระดับนาโนสเกลจํานวน 1 มต เชน แผนนาโน หรอ
ุ
ื
้
ุ
กระบวนการเคลอบในระดับนาโนสเกลนันจําเปนตองควบคมคณภาพในการเคลอบระดับนาโนสเกล
ื
่
ุ
ดวยวิธีการทีเหมาะสม โดยการควบคมสภาวะทีใชในกระบวนการเคลือบเริมตนดวยการตรวจสอบ
่
่
่
ื
ี
ื
ุ
้
ุ
ุ
ั
คณภาพการเคลอบจากลกษณะเฉพาะทเปนการตกลงรวมกัน จากนันควบคมคณภาพของการเคลอบใน
ุ
แตละรอบการผลตโดยเฝาตดตามและควบคมสภาวะทใชในกระบวนการแทนการวัดลกษณะเฉพาะ
ั
่
ี
ิ
ิ
ั
ุ
ุ
3.4.2 ลกษณะเฉพาะทจําเปนในการกําหนดสภาวะกระบวนการสําหรบการควบคมคณภาพการเคลอบระดับ
ั
่
ื
ี
ั
นาโนสเกลสาหรบการใชงานเฉพาะดาน มดังนี ้
ํ
ี
ื
(1) ความหนาของการเคลอบ (coating thickness)
(2) ความสม่ําเสมอของความหนา (thickness uniformity)
(3) สวนประกอบทางเคมของสารเคลอบ (chemical composition of the coating)
ี
ื
ื
ื
ิ
(4) ความแขงแรงระหวางผวเคลอบกับฐานรองเคลอบ (interfacial strength with the substrate)
็
ี
ํ
่
่
ี
่
ื
ื
ิ
ั
3.4.3 ลกษณะเฉพาะอนของแผนนาโน และผลตภัณฑทไดจากการเคลอบระดับนาโนสเกลทอาจจาเปนตอการ
ํ
ั
ุ
่
่
่
ิ
ุ
่
ี
ี
ิ
ั
ี
กําหนดลกษณะเฉพาะเพือใหเกิดความมนใจวามคณภาพคงทและมประสทธภาพสมาเสมอในทกรอบ
ิ
การผลต มดังนี ้
ี
ุ
(1) ความพรน
(2) สวนประกอบทางเคมของผว
ี
ิ
-8-