Page 5 - กำหนดมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรม นาโนเทคโนโลยี เล่ม๔
P. 5
มอก. 2691 เลม 4–2558
หมายเหต ในกรณทมสหสมพนธระหวางปริมาณดานเขาของแบบจําลองการวัด ตองนาความแปรปรวนรวมเกียว
ี
ี
ี
่
ํ
ั
่
ั
ุ
่
ื
ํ
มาพจารณารวมดวยเมอคานวณความไมแนนอนการวัดมาตรฐานรวม ด ISO/IEC Guide 98-3 : 2008
ู
ิ
ิ
ิ
่
ขอ 2.3.4 เพมเตม
ิ
้
ี
ิ
ึ
ี
2.10 เคมผว (surface chemistry) หมายถง ธรรมชาตทางเคมของพืนผว
ิ
ั
ึ
่
ี
ี
2.11 ทอนาโน (nanotube) หมายถง เสนใยนาโนทมลกษณะกลวง
ี
่
ึ
2.12 ทอนาโนคารบอน (carbon nanotube) หมายถง ทอนาโนทประกอบดวยอะตอมคารบอน
หมายเหต ทอนาโนคารบอนโดยปกติประกอบดวยแผนของแกรฟนมวนเปนทอ รวมถึงทอนาโนคารบอนแบบ
ุ
่
ั
ี
้
ผนังเดยว (single-wall carbon nanotube) และ ทอนาโนคารบอนแบบผนังหลายชน (multi-wall carbon
nanotubes)
้
ึ
ี
่
2.13 นาโนคอลลอยด (nano-colloid) หมายถง สารเนือผสมทประกอบดวยอนุภาคขนาดนาโนสเกลกระจายอยาง
ุ
ื
ี
่
ี
ึ
่
่
สมาเสมอในของเหลวดวยประจไฟฟาของอนุภาค ซงมการเคลอนทแบบบราวน และมการเคลอนทเนืองจาก
ี
ํ
ี
่
่
่
ื
่
อทธพลทางสนามไฟฟาในของเหลวนัน
ิ
้
ิ
ู
ึ
2.14 นาโนเทคโนโลยี (nanotechnology) หมายถง การประยุกตใชความรทางวิทยาศาสตรในการจัดการและ
ื
ึ
ั
ี
่
้
ควบคมสสารในระดบนาโนสเกล เพือใชประโยชนจากลกษณะเฉพาะหรอปรากฏการณทขนกับขนาดหรอ
ื
่
ั
ุ
่
โครงสรางของสสาร โดยลักษณะเฉพาะหรือปรากฏการณดังกลาวแตกตางจากทีพบในอะตอม หรือโมเลกุล
หรอวัสดุขนาดใหญ
ื
ั
หมายเหต การจดการและควบคมนนรวมถึงการสงเคราะหวัสดดวย
ุ
้
ั
ุ
ุ
ั
2.15 นาโนสเกล (nanoscale) หมายถง มตของวัสดุในชวง 1 nm ถง 100 nmโดยประมาณ
ึ
ึ
ิ
ิ
ี
่
ี
ั
่
ิ
ุ
ุ
ุ
ี
ี
ั
ั
หมายเหต 1 ในกรณทวัสดแสดงลักษณะเฉพาะใหม (ทอาศยการคาดการณ หรือเทยบบญญตไตรยางคจากวัสดท ่ ี
ี
ี
มขนาดใหญกวาไมได) ในชวงนาโนสเกลน อนโลมใหคาจํากดความของนาโนสเกลเปน “คา
ํ
ุ
ั
้
โดยประมาณ” ระหวาง 1 nm ถึง 100 nm ได
ั
ี
ํ
่
2 การกาหนดใหขอบเขตลางของนาโนสเกลมคาเทากบ 1 nm มวัตถุประสงคเพอหลีกเลียงการ
ี
่
ื
กาหนดอะตอมหรือกลุมอะตอม วาเปน “วัตถุนาโน” หรือ ธาตองคประกอบของโครงสรางนาโน
ุ
ํ
ึ
้
ั
ิ
ั
2.16 แบบจําลองการวัด (measurement model) หมายถง ความสมพันธทางคณิตศาสตรระหวางปรมาณทงหมดท ่ ี
ทราบวาเกียวของในการวัด
่
ื
่
ั
่
ื
หมายเหต รูปแบบโดยทวไปของแบบจําลองการวัด คอสมการ h (Y,X , …, X ) = 0 เมอ Y หรือปริมาณดานออก
ุ
n
1
ิ
่
่
ิ
่
ของแบบจําลองการวัด คอ สงทเจตนาวัดโดยทีจะประมวลคาปริมาณของสงทเจตนาวัดนนจาก
้
ั
่
ี
ื
ี
่
ั
ี
่
สารสนเทศเกยวกบปริมาณดานเขาของแบบจําลองการวัด (X , …, X )
1
n
ี
ุ
ุ
ิ
่
2.17 ประจทผว (surface charge) หมายถง ประจไฟฟาบนพนผว
้
ื
ิ
ึ
่
ิ
ี
้
่
ั
่
ี
2.18 สงทเจตนาวัด (measurand) หมายถง ปรมาณทตงใจจะวัด
ึ
ิ
-3-
