Page 8 - กำหนดมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรม นาโนเทคโนโลยี เล่ม๔
P. 8
มอก. 2691 เลม 4–2558
ื
3.3 cryo-TEM (cryo-transmission electron microscope) คอ กลองจุลทรรศนอเลกตรอนแบบสองผาน / แชเยือก
ิ
็
็
แขง
ุ
3.4 SANS (small angle neutron scattering) คอ การกระเจิงนิวตรอนเปนมมเลก
ื
็
3.5 SAXS (small angle X-ray scattering) คอ การกระเจิงรงสเอกซเปนมมเลก
ื
ั
็
ุ
ี
3.6 SLS (static light scattering) คอ การกระเจิงแสงสถต
ิ
ื
ื
ั
ึ
3.7 ADME (absorption, distribution, metabolism and excretion) คอ การดูดซม การกระจายตว กระบวนการเผา
ั
ผลาญ และการขบถาย
่
ื
3.8 LII (laser-induced incandescence) คอ การเปลงแสงจากวัตถรอนทเหนียวนําดวยเลเซอร
่
ุ
ี
3.9 XRD (X-ray diffraction) คอ การเลียวเบนรังสีเอกซ
ื
้
3.10 TGA (thermogravimetric analysis) คอ การวิเคราะหเชงความรอนแบบเทอรโมกราวิเมตรก
ื
ิ
ิ
3.11 CNT (carbon nanotube) คอ ทอนาโนคารบอน
ื
ื
3.12 DLS (dynamic light scattering) คอ เทคนิคการกระเจิงของแสงพลวัต
ี
3.13 NMR (nuclear magnetic resonance) คอ นิวเคลยรแมกเนตกเรโซแนนซ
ิ
ื
ื
3.14 GUM (guide to the expression of uncertainty in measurement) คอ แนวทางในการแสดงความไมแนนอนใน
การวัด
ี
ิ
ื
ุ
3.15 SIMS (secondary ion mass spectrometry) คอ แมสสเปกโทรเมตรแบบไอออนทตยภูม ิ
3.16 UV (ultraviolet) คอ รงสอลตราไวโอเลต
ั
ั
ื
ี
ุ
3.17 NOAAs (nano-objects and their aggregates and agglomerates) คอ วัตถนาโน และวัตถนาโนในรปของ
ุ
ื
ู
อนุภาคกอนเกาะแนนและอนุภาคกอนเกาะหลวม
ี
ู
ิ
3.18 EELS (electron energy loss spectrometry) คอ สเปกโทรเมตรการสญเสยพลงงานอเลกตรอน
็
ี
ื
ั
ั
ื
่
3.19 BIPM (Bureau International des Poids et Mesures) คอ สานักงานชงตวงวัดระหวางประเทศ
ํ
3.20 EHS (environment, health and safety) คอ สงแวดลอม สขภาพ และความปลอดภัย
ื
่
ิ
ุ
่
ั
ี
ิ
3.21 GMP (good manufacturing practices) คอ หลกเกณฑ และวิธการทีดีในการผลต
ื
ื
ื
่
3.22 OECD (Organization for Economic Cooperation and Development) คอ องคการเพือความรวมมอทาง
เศรษฐกิจและการพัฒนา
ิ
็
ื
3.23 AES (Auger electron spectroscopy) คอ ออเจรอเลกตรอนสเปกโทรสโกป
ี
ิ
ั
ื
3.24 ICP-MS (inductively coupled plasma-mass spectrometer) คอ อนดักทพลคพเพิลพลาสมา-แมสสเปกโทร
ิ
มเตอร
ิ
ิ
ั
ี
ิ
ื
3.25 ICP-OES (inductively coupled plasma-optical emission spectrometer) คอ อนดักทพลคพเพิลพลาสมาออพ
ิ
ตคลอมสชนสเปกโทรมเตอร
ั
ั
ิ
ิ
ิ
ิ
็
3.26 XPS (X-ray photoelectron spectroscopy) คอ เอกซเรยโฟโตอเลกตรอนสเปกโทรสโกป
ื
-6-