Page 31 - กำหนดมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรม นาโนเทคโนโลยี เล่ม๔
P. 31
มอก. 2691 เลม 4–2558
่
ี
ื
ิ
ิ
่
ิ
(1.3) พารามเตอร หรอปรมาณของชนงานทใชในการทดสอบและชวงทตองการหา
้
ี
ี
ิ
(1.4) ขอมลดานปรมาณทได ครอบคลมคาความไมแนนอนในการวัด และขอมลการสอบกลบได
ู
่
ั
ู
ุ
ิ
(1.5) มาตรฐานอางอง และวัสดุอางองทตองการ
ี
ิ
่
ี
ี
่
ี
(1.6) สภาวะแวดลอมทจําเปน และระยะเวลาทใชในการทําใหสภาวะแวดลอมมความเสถยร
่
ี
ั
(1.7) ระเบยบวิธปฏบต ประกอบดวย
ิ
ี
ิ
ี
(ก) การติดเครืองหมายระบุ การเคลอนยาย (handling) การขนสง (transportimg) การเก็บรักษา
่
ื
่
ี
้
(storing) และการจัดเตรยมชนงาน (preparation of item)
ิ
่
ี
ั
ิ
ิ
่
(ข) การตรวจสอบทจําเปนกอนเรมปฏบตงาน
ิ
ิ
(ค) การตรวจสอบการทํางานของอปกรณ สอบเทยบและปรบอปกรณกอนเรมปฏบตงาน
ุ
่
ิ
ิ
ั
ุ
ั
ี
ึ
ี
ั
ู
(ง) วิธการจดบนทกขอมลและผล
ั
ี
่
(จ) การวัดคาความปลอดภัยทตองสงเกต
ิ
(1.8) เกณฑ และ/หรอขอกําหนดการยอมรบ และ/หรอการปฏเสธ
ั
ื
ื
(1.9) ขอมลทบนทกไว และวิธวิเคราะหและนาเสนอ
ู
่
ํ
ึ
ี
ั
ี
(1.10) คาความไมแนนอน หรือระเบียบปฏิบัติสําหรับการประเมินคาความไมแนนอน
ุ
ี
ื
ื
่
ี
(2) รายละเอยดอปกรณและเครองมอทใช
่
(3) การสอบกลบไดในการวัด-การสอบเทยบ และมาตรฐาน/วัสดุอางอง
ิ
ั
ี
ู
ิ
ุ
ี
ี
่
ึ
(4) ขอมลเชงคณภาพ ความเห็น และการตความ ตองมความชดเจนและกลาวแยกออกมาจากสวนทรายงานถง
ั
ี
ขอสงเกตทพบเจอ
ั
่
ี
ึ
ี
(5) ขอมลดานปรมาณทได (รวมถงคาความไมแนนอนในการวัด และขอมลการสอบกลบได)
่
ิ
ู
ั
ู
-29-
