Page 36 - กำหนดมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรม นาโนเทคโนโลยี เล่ม๔
P. 36
มอก. 2691 เลม 4–2558
ี
่
่
ี
ตารางท ข.1 วธการวดและมาตรฐานทเกยวของ (ตอ)
ั
่
ี
ี
ิ
่
ี
ี
่
พารามเตอร วธวด มาตรฐานทเกยวเนือง
ี
ั
่
ิ
ิ
ั
ั
้
่
ื
ี
ี
ิ
พืนทผว วิธการทีอาศยการดูดซบแกส หรอ (1) ISO 15901-1 : 2005, Pore size distribution and
่
ี
ุ
ของเหลวทอณหภูมเสมอ porosity of solid materials by mercury porosimetry
่
ิ
(gas or liquid adsorption and gas adsorption-Part 1 : Mercury porosimetry
isotherm) (2) ISO 15901-2 : 2005, Pore size distribution and
ุ
การวัดความพรนดวยของเหลว porosity of solid materials by mercury porosimetry
(liquid porosimetry) and gas adsorption-Part 2 : Analysis of mesopores
and macropores by gas adsorption
(3) ISO 15901-3 : 2005, Pore size distribution and
porosity of solid materials by mercury porosimetry
การวิเคราะหภาพ and gas adsorption-Part 3 : Analysis of micropores by
(image analysis) gas adsorption
LII
(4) ISO 18757 : 2003, Fine ceramics (advanced ceramics,
advanced technical ceramics)-Determination of
specific surface area of ceramic powders by gas
adsorption using the BET method
(5) ISO 13322-1 : 2004, Particle size analysis–Image
analysis methods-Part 1 : Static image analysis
methods
ี
ู
ั
องคประกอบ ฟลออเรสเซนซรงสเอกซ (X-ray (1) ISO 22309 : 2006, Microbeam analysis-quantitative
ิ
ุ
์
ิ
fluorescence)-ความบรสทธทาง analysis using energy-dispersive spectrometry (EDS)
ี
เคม (2) ISO 22489 : 2006, Microbeam analysis-electron
ิ
ุ
์
ิ
XPS-ความบรสทธทางเคม probe microanalysis-quantitative point analysis for
ี
ุ
AES-ความบรสทธทางเคม ี bulk specimens using wavelength-dispersive X-ray
ิ
ิ
์
ึ
XRD-ผลก ปรมาณสมพัทธของ spectroscopy
ั
ิ
เฟสผลกทแตกตางกัน ความ (3) ISO 24173 : 2009, Microbeam analysis-Guidelines
ึ
่
ี
บรสทธ ์ ิ for orientation measurement using Electron
ุ
ิ
Backscatter Diffraction
-34-